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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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IGBT模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)(同時上下橋上電測試,電子開關保護)

符合標準:

IEC60749 、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的IGBT模塊、二極管模塊、整流橋模塊、晶閘管模塊進行高溫反偏試驗(HTRB)。

技術特點:

可實時監(jiān)測每個的結溫TJ。

可實現(xiàn)上下橋同時加電測試。

每個回路漏電流超上限電子開關斷電保護。

實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

全過程試驗數(shù)據保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術性能

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