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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

高溫高濕反偏老化測(cè)試系統(tǒng)(單管、H3TRB)

符合標(biāo)準(zhǔn):

JEDEC、 AEC-Q101等標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、單管IGBT等器件在高溫高濕條件下進(jìn)行反向偏壓試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流。

全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術(shù)性能

表格 p23.png